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 An Examination of Three Common Assumptions Used to Simulate Recombination in Heavily Doped Silicon 用于模拟重掺杂硅复合的三个常见假设的检验
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期刊： 作者：Keith R. McIntosh; Pietro P. Altermatt; Thomas Ratcliff; Kean Chern Fong; Lachlan E. Black; et al 出版日期：2013-11-22 |
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