标题 |
Co-sputtered Cu/Ti bonded interconnects for 3D integration applications
用于3D集成应用的共溅射Cu/Ti键合互连
相关领域
材料科学
溅射
铜
光电子学
计算机科学
冶金
纳米技术
薄膜
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DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Hsiao‐Yu Chen; S. Y. Hsu; Kuan‐Neng Chen 出版日期:2013-04-01 |
求助人 | |
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