标题 |
P‐2: Nitrogen Behaviors in PEALD‐Grown SiO2 Films Using N2O Plasma Reactant and Its Application in ALD‐IZO TFTs
P-2:使用N2O等离子体反应物的PEALD生长SiO2薄膜中的氮行为及其在ALD-IZO TFTs中的应用
相关领域
原子层沉积
材料科学
等离子体
薄膜晶体管
氮气
分析化学(期刊)
图层(电子)
硅
光电子学
纳米技术
化学
环境化学
量子力学
物理
有机化学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:SID Symposium Digest of Technical Papers 作者:Dong-Gyu Kim; Kwang Su Yoo; Hye‐Mi Kim; Jin‐Seong Park 出版日期:2022-06-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|