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 Mechanistic Understanding of Additive Reductive Degradation and SEI Formation in High‐Voltage NMC811||SiOx‐Containing Cells via Operando ATR‐FTIR Spectroscopy (Adv. Energy Mater. 5/2024) 通过Operando ATR-FTIR光谱对含NMC811SiOx的高压电池中添加剂还原降解和SEI形成的机理理解（Adv.Energy Mater.5/2024）
相关领域
材料科学
傅里叶变换红外光谱
降级（电信）
光谱学
化学工程
分析化学（期刊）
有机化学
电气工程
化学
物理
量子力学
工程类
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| 其它 |
期刊：Advanced Energy Materials 作者：Matthias Weiling; Christian Lechtenfeld; Felix Pfeiffer; Lars Frankenstein; Diddo Diddens; et al 出版日期：2024-02-01 |
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