标题 |
![]() 48-4:后期新闻论文:评估a-IGZO沟道特性以提高氧化物TFT的性能
相关领域
频道(广播)
薄膜晶体管
可靠性(半导体)
前线(军事)
材料科学
氧化物
图层(电子)
光电子学
电气工程
工程类
纳米技术
物理
冶金
机械工程
热力学
功率(物理)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:SID Symposium Digest of Technical Papers 作者:Bohwa Kim; Sunwoo Lee; Jeabum Han; Kiyoung Yeon; Nari Ahn 出版日期:2023-06-01 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|