| 标题 |
 Compact Modeling of Process Variations in Nanosheet Complementary FET (CFET) and Circuit Performance Predictions 纳米片互补FET（CFET）工艺变化的紧凑建模和电路性能预测
相关领域
环形振荡器
纳米片
逻辑门
晶体管
蒙特卡罗方法
电子工程
阈值电压
材料科学
香料
功率（物理）
光电子学
电压
工程类
CMOS芯片
物理
电气工程
纳米技术
数学
统计
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Xiaoqiao Yang; Yabin Sun; Xiaojin Li; Yanling Shi; Ziyu Liu 出版日期：2023-07-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
nozero
科研小民工
昏睡的蟠桃
小杨同学
zho
bc
cdercder
shinysparrow
苏卿
SYLH
史小菜
Leon
从容芮
一般路过kamenride
yanzu
HEIKU
压缩机
Agernon
22222
VDC
皖公网安备34019202002308
