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 Chemical and electronic properties of interfaces between RuO2 and Hf0.5Zr0.5O2 studied by x-ray photoelectron spectroscopy 用x射线光电子能谱研究RuO2与Hf0.5Zr 0.5 O2界面的化学和电子性质
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Anna G. Chernikova; Yu. Yu. Lebedinskiǐ; Roman R. Khakimov; Andrey M. Markeev 出版日期：2023-01-09 |
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