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A profile-fitting procedure for analysis of broadened X-ray diffraction peaks. II. Application and discussion of the methodology
分析展宽X射线衍射峰的轮廓拟合程序。二。方法论的应用与探讨
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期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:A. Benedetti; G. Fagherazzi; Stefano Enzo; M. Battagliarin 出版日期:1988-10-01 |
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