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 Physical Origin of Recovable Ferroelectric Fatigue and Recovery for Doped-HfO2: Toward Endurance Immunity 可恢复铁电疲劳的物理起源和掺杂HfO2的恢复：走向耐力免疫
相关领域
铁电性
材料科学
兴奋剂
光电子学
电介质
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期刊： 作者：Jiajia Chen; Haoji Qian; Hongrui Zhang; Rongzong Shen; Gaobo Lin; et al 出版日期：2023-12-09 |
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