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Analysis of Nanocrystal of Porous Silicon with High-Resolution Transmission Electron Microscopy
多孔硅纳米晶的高分辨透射电镜分析
相关领域
高分辨率透射电子显微镜
材料科学
多孔硅
透射电子显微镜
硅
纳米晶
电子衍射
电子断层摄影术
无定形固体
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光学
纳米技术
衍射
光电子学
结晶学
扫描透射电子显微镜
化学
物理
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其它 |
期刊:Advanced materials research 作者:Jing Lu; Xuan Cheng 出版日期:2013-01-01 |
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