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 Probing Out‐Of‐Plane Charge Transport in Organic Semiconductors Using Conductive Atomic Force Microscopy 用导电原子力显微镜探测有机半导体中的面外电荷输运
相关领域
接触电阻
材料科学
有机半导体
半导体
量子隧道
导电原子力显微镜
电导率
纳米技术
导电体
光电子学
化学物理
载流子
薄板电阻
等效串联电阻
原子力显微镜
复合材料
化学
电压
电气工程
物理化学
工程类
图层（电子）
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期刊：Advanced Materials 作者：Mindaugas Gicevičius; Hao Gong; Nicholas Turetta; William A. Wood; Martina Volpi; et al 出版日期：2024-12-26 |
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