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 Critical properties of Cu 6 Sn 5 in electronic devices: Recent progress and a review Cu 6 Sn 5在电子器件中的关键性能研究进展
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期刊：Current Opinion in Solid State and Materials Science 作者：Dekui Mu; Stuart D. McDonald; J. Read; Han Huang; Kazuhiro Nogita 出版日期：2015-08-29 |
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