| 标题 |
 High Performance Lithography Hotspot Detection With Successively Refined Pattern Identifications and Machine Learning 基于连续细化模式识别和机器学习的高性能光刻热点检测
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期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Duo Ding; J. Andres Torres; David Z. Pan 出版日期：2011-10-18 |
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