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 Enhanced Hole Mobility and Decreased Ion Migration Originated from Interface Engineering for High Quality PSCs with Average FF beyond 80% 界面工程提高了空穴迁移率，降低了离子迁移率，提高了平均FF超过80%的高质量PSC的性能
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期刊：Small methods 作者：Xiaoli Gong; Haimin Li; Xingchong Liu; Dewei Zhao; Hanyu Wang; et al 出版日期：2022-04-24 |
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