标题 |
![]() 高级防伪:基于深度神经网络监督学习的角度相关结构颜色的CuO/ZnO纳米图案
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Mun Jeong Choi; SeongYeon Kim; Jongho Shin; Geon Hwee Kim 出版日期:2025 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |