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 A Deep Residual PLS for Data-Driven Quality Prediction Modeling in Industrial Process 工业过程数据驱动质量预测建模的深度残差PLS
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期刊：IEEE/CAA journal of automatica sinica 作者：Xiaofeng Yuan; Weiwei Xu; Yalin Wang; Chunhua Yang; Weihua Gui 出版日期：2024-08-01 |
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