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[高分] Impact of turn off transients on MOSFET failure during short circuit events
短路事件期间关断瞬间对MOS器件故障的影响
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期刊:11th International Conference on Power Electronics, Machines and Drives (PEMD 2022) 作者:L. T. Robinson; Ransheng Xu; Matthew T M Littlefair; Andrew J. Gallant; A.B. Horsfall 出版日期:2022-01-01 |
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