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 Surface and bulk density of states of a-Si:H determined by CPM and total-yield photoelectron spectroscopy 用CPM和总产率光电子能谱测定a-Si：H的表面态和体态密度
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期刊：Journal of Non-Crystalline Solids 作者：F. Siebke; W. Beyer; J. Herion; H. Wagner 出版日期：1991-01-01 |
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