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 A Highly Reliable Molybdenum Disulfide-Based Synaptic Memristor Using a Copper Migration-Controlled Structure 相关领域
二硫化钼
记忆电阻器
材料科学
铜
钼
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作者：Wonbae Ahn, Han Beom Jeong, Jungyeop Oh, Woonggi Hong, Jun-Hwe Cha, Hu Young Jeong, and Sung-Yool Choi* |
| 求助人 | |
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不配.
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