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![]() 功率对MOS电容器用磁控溅射氧化钆薄膜物理和电学性能的影响
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期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:G. Arun Kumar Thilipan; Ashwath Rao 出版日期:2020-09-03 |
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丘比特
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2025-04-02 08:15:29 发布,悬赏 10 积分
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