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![]() 堆叠纳米片场效应晶体管结构中的进动电子衍射(PED)应变表征
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期刊:Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者:J. Li; S. Mochizuki; E. Stuckert; L. Tierney; K. Toole; et al 出版日期:2022-10-26 |
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