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[高分] Relation of Dielectric Constants and Chemical Structures of Low Dielectric Constant SiCOH Films Deposited by Using Octamethylcyclotetrasiloxane and Tetraethylorthosilicate Precursors
八甲基环四硅氧烷和原硅酸四乙酯前驱体沉积低介电常数SiCOH薄膜的介电常数与化学结构的关系
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期刊:Journal of Nanoscience and Nanotechnology 作者:Yoon‐Soo Park; Sungyool Kwon; Wonjin Ban; Hyuna Lim; Donggeun Jung 出版日期:2019-04-26 |
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