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Achieving High Field-Effect Mobility Exceeding 90 cm2/Vs in a-IGZTO Transistors With Excellent Reliability
在具有优异可靠性的a-IGZTO晶体管中实现超过90 cm2/Vs的高场效应迁移率
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Bang Ju Park; Sang Won Chung; Min Jae Kim; Heung Jo Lee; Jae Hoon Bae; et al 出版日期:2023-09-21 |
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