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  A method for measuring and calibrating the thickness of thin films based on infrared interference technology 一种基于红外干涉技术的薄膜厚度测量与标定方法
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期刊：Results in Physics 作者：Jiaxing Sun; Xinyu Li; Haojie Zhang; Jinlong Song; Zhisong Li 出版日期：2023-07-11 |
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