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Degradation and capacitance: voltage hysteresis in CdTe devices
退化和电容:CdTe器件中的电压滞后
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:David S. Albin; R. G. Dhere; Stephen Glynn; Jennifer Cueto; Wyatt K. Metzger 出版日期:2009-08-18 |
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