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  A Femtosecond Electron‐Based Versatile Microscopy for Visualizing Carrier Dynamics in Semiconductors Across Spatiotemporal and Energetic Domains 一种基于飞秒电子的多功能显微镜，用于跨时空和能量域可视化半导体中的载流子动力学
相关领域
半导体
飞秒
材料科学
载流子寿命
阴极发光
电子迁移率
砷化镓
显微镜
光电子学
纳米技术
激光器
光学
物理
硅
发光
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| 其它 |
期刊：Advanced science 作者：Yaqing Zhang; Xiang Chen; Yaocheng Yu; Yue Huang; Minwang Qiu; et al 出版日期：2024-06-18 |
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