标题 |
Polarity effect of interfacial intermetallic compounds of BGA structure Cu/Sn–52In/Cu solder joints during electromigration
BGA结构Cu/Sn-52In/Cu焊点界面金属间化合物在电迁移过程中的极性效应
相关领域
电迁移
金属间化合物
材料科学
焊接
球栅阵列
冶金
极性(国际关系)
复合材料
合金
遗传学
生物
细胞
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Intermetallics 作者:Jiaqiang Huang; Yu Zhu; Kailin Pan; Xudong Wang; Zhaoling Huang; et al 出版日期:2024-05-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|