标题 |
Terahertz time-domain spectroscopy characterization of the far-infrared absorption and index of refraction of high-resistivity, float-zone silicon
高电阻率浮区硅远红外吸收和折射率的太赫兹时域光谱表征
相关领域
太赫兹辐射
材料科学
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期刊: 作者:Jianming Dai; Jiangquan Zhang; Weili Zhang; Daniel R. Grischkowsky 出版日期:2004-07-01 |
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