隔离槽对锑化铟探测器芯片断裂的影响

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标题	隔离槽对锑化铟探测器芯片断裂的影响相关领域材料科学
网址	https://doi.org/10.3788/irla20210599
DOI	10.3788/irla20210599 doi
其它	期刊：Infrared and Laser Engineering 作者：田笑含 Tian Xiaohan; 张江风 Zhang Jiangfeng; 张晓玲 Zhang Xiaoling; 孟庆端 Meng Qingduan 出版日期：2022-01-01
求助人	独特山芙在 2024-11-04 13:44:46 发布自浙江，悬赏 10 积分
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