标题 |
[高分] Comparison between die attach film (DAF) and film over wire (FOW) on stack-die CSP application
芯片贴膜(DAF)与导线贴膜(FOW)在叠片CSP应用中的比较
相关领域
模具(集成电路)
材料科学
堆栈(抽象数据类型)
复合材料
差示扫描量热法
扫描电子显微镜
小型化
光学显微镜
纳米技术
计算机科学
热力学
物理
程序设计语言
|
网址 |
求助人暂未提供
AI链接 ieee.org |
DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
其它 |
期刊:European Microelectronics and Packaging Conference 作者:Cho-Liang Chung; Chia-Ping Ku; Hsiang‐Chen Hsu; Shen‐Li Fu 出版日期:2009-06-15 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|