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 Leveraging pattern matching to solve SRAM verification challenges at advanced nodes 利用模式匹配解决高级节点的SRAM验证难题
相关领域
计算机科学
调试
过程（计算）
静态随机存取存储器
工艺变化
嵌入式系统
匹配（统计）
可靠性工程
工程类
计算机硬件
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数学
统计
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期刊： 作者：Qijian Wan; Huan Kan; Lucas Huang; Legender Yang; Elaine Zou; et al 出版日期：2018-03-20 |
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