标题 |
Exploring photogenerated charge carrier transfer in semiconductor/metal junctions using Kelvin probe force microscopy
用开尔文探针力显微镜研究半导体/金属结中光生载流子转移
相关领域
开尔文探针力显微镜
半导体
材料科学
欧姆接触
肖特基势垒
载流子
光电子学
电子转移
肖特基二极管
纳米技术
化学物理
化学
二极管
光化学
原子力显微镜
图层(电子)
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其它 |
期刊:Journal of Materials Science & Technology 作者:Chuanbiao Bie; Meng Zheng; Bowen He; Bei Cheng; Gang Liu; et al 出版日期:2024-02-01 |
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