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 XRD, SEM, AFM, HRTEM, EDAX and RBS studies of chemically deposited Sb2S3 and Sb2Se3 thin films 化学沉积Sb2S3和Sb2Se3薄膜的XRD、SEM、AFM、HRTEM、EDAX和RBS研究
相关领域
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纳米晶材料
材料科学
扫描电子显微镜
正交晶系
薄膜
透射电子显微镜
分析化学（期刊）
化学浴沉积
化学计量学
纳米技术
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化学
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晶体结构
物理化学
色谱法
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| DOI |
10.1016/s0169-4332(01)00819-4
doi
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| 其它 |
期刊：Applied Surface Science 作者：C.D. Lokhande; Babasaheb R. Sankapal; Rajaram S. Mane; Habib M. Pathan; M. Müller; et al 出版日期：2002-06-01 |
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