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 Deep Level Energy Analysis of Surface and Bulk Defects Using a Noncontact Laser/Microwave Photoconductance Technique 使用非接触激光/微波光电导技术对表面和体缺陷进行深能级能量分析
相关领域
材料科学
微波食品加热
重组
俘获
激光器
兴奋剂
激发
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光学
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期刊：MRS Proceedings 作者：A. Buczkowski; G. A. Rozgonyi; Fumio Shimura 出版日期：1992-01-01 |
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