标题 |
O2 and Ar plasma processing over SiO2/Si stack: Effects of processing gas on interface defect generation and recovery
SiO2/Si堆上O2和Ar等离子体处理:处理气体对界面缺陷产生和恢复的影响
相关领域
堆栈(抽象数据类型)
等离子体处理
等离子体
材料科学
接口(物质)
等离子体化学
材料加工
氩
原子物理学
计算机科学
工艺工程
核物理学
物理
操作系统
工程类
复合材料
毛细管数
毛细管作用
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Shota Nunomura; Takayoshi Tsutsumi; Isao Sakata; Masaru Hori 出版日期:2024-02-02 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|