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A comparative study on defect estimation using XPS and Raman spectroscopy in few layer nanographitic structures
XPS和Raman光谱对几层纳米石墨结构缺陷估计的比较研究
相关领域
拉曼光谱
X射线光电子能谱
空位缺陷
材料科学
平面的
背景(考古学)
分析化学(期刊)
分子物理学
化学
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核磁共振
光学
物理
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计算机图形学(图像)
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古生物学
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期刊:Physical Chemistry Chemical Physics 作者:Kumar Ganesan; Subrata Ghosh; Nanda Gopala Krishna; S. Ilango; M. Kamruddin; et al 出版日期:2016-01-01 |
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