标题 |
![]() 从半导体到金属表面态揭示Bi2Te3的红外探测性能与厚度的关系
相关领域
红外线的
材料科学
半导体
金属
光电子学
曲面(拓扑)
表面状态
纳米技术
光学
冶金
物理
几何学
数学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Nanoscale 作者:Qijun Kao; Yongfeng Jia; Zhihao Wu; Zhiping Zhou; Xun Ge; et al 出版日期:2025-01-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|