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Investigation of Heavy-Ions-Induced Leakage Current Modes and Degradation Mechanism in SiC MOSFETs Under Complex Heavy Ion Conditions 复杂重离子条件下SiC MOSFET中重离子诱导漏电流模式及退化机制研究
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Maojiu Luo; Yourun Zhang; Yucheng Wang; Li Li; Wan‐Li Ma; et al 出版日期:2024-09-20 |
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