标题 |
Origin of La Doping-Induced Endurance Improvement and Wake-up Effect Reduction in Ferroelectric HfO2 Thin Films
La掺杂提高铁电HfO2薄膜耐久性和降低唤醒效应的原因
相关领域
铁电性
兴奋剂
掺杂剂
材料科学
电介质
凝聚态物理
氧气
物理
量子力学
光电子学
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其它 |
期刊:Physical Review Applied 作者:Tao Yu; Shining Geng; Binjian Zeng; Ge Wang; Zewen Xiao; et al 出版日期:2023-11-27 |
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