标题 |
High-efficiency full-surface defects detection for an ICF capsule based on a null interferometric microscope
基于零干涉显微镜的ICF胶囊全表面缺陷高效检测
相关领域
光学
惯性约束聚变
材料科学
显微镜
激光器
干涉测量
国家点火设施
物理
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DOI | |
其它 |
期刊:Applied Optics 作者:Cong Wei; Jianxin Li; Jun Ma; Mingliang Duan; Yi Zong; et al 出版日期:2020-09-23 |
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