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 Characterization of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in 130-nm and 90-nm CMOS Technologies 130nm和90nm CMOS技术中数字单事件瞬态脉冲宽度的表征
相关领域
CMOS芯片
脉搏（音乐）
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Balaji Narasimham; B. L. Bhuva; Ronald D. Schrimpf; L. W. Massengill; Matthew J. Gadlage; et al 出版日期：2007-12-01 |
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