| 标题 |
 Low-frequency noise and DC I–V characterization of gamma-ray irradiation-induced degradation and trap behaviors in a-IGZO TFTs a-IGZO薄膜晶体管γ射线辐照引起的退化和陷阱行为的低频噪声和直流I-V表征
相关领域
降级（电信）
存水弯（水管）
辐照
材料科学
次声
光电子学
噪音（视频）
表征（材料科学）
伽马射线
γ辐照
放射化学
电气工程
化学
纳米技术
物理
计算机科学
核物理学
声学
工程类
人工智能
气象学
图像（数学）
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Hongseung Lee; Jae‐Hyoung Yoo; H. Song; Binhyeong Lee; Soon Joo Yoon; et al 出版日期：2025-02-10 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
毛豆
吡咯爱成环
火星上的菲鹰
挖菜
田様
杳鸢
兼听则明
wen
cocolu
白粥
cctv18
tuanheqi
ceeray23
David
MchemG
jyy
嘉心糖
星辰大海
深情安青
共享精神
皖公网安备34019202002308
