标题 |
Novel DNQ PACs for high-resolution i-line lithography
用于高分辨率i线光刻的新型DNQ PACs
相关领域
抵抗
平版印刷术
极紫外光刻
多重图案
德拉姆
光刻
计算光刻
计算机科学
直线(几何图形)
光学(聚焦)
焦点深度(构造)
浸没式光刻
材料科学
下一代光刻
兆位
光学
光电子学
电子束光刻
纳米技术
物理
电信
地质学
古生物学
几何学
构造学
俯冲
数学
图层(电子)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Proceedings of SPIE 作者:William R. Brunsvold; Nicholas K. Eib; Christopher F. Lyons; Steve S. Miura; Marina V. Plat; et al 出版日期:1992-06-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|