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![]() 在255nm处重力参考传感器配置中电隔离检验质量的UV LED电荷控制
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期刊:Latin America Optics and Photonics Conference 作者:KarthikAthens Balakrishnan; Turki Al Saud; Daniel B. DeBra; Ke-Xun Sun; Abdul Alfauwaz; et al 出版日期:2014-01-01 |
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