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Impact of Gate Metal on the Performance of p-GaN/AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors
栅金属对p-GaN/AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管性能的影响
相关领域
高电子迁移率晶体管
材料科学
光电子学
肖特基势垒
工作职能
肖特基二极管
晶体管
氮化镓
阈值电压
宽禁带半导体
半导体
金属浇口
电气工程
金属
电压
栅氧化层
纳米技术
二极管
图层(电子)
冶金
工程类
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其它 |
期刊:IEEE electron device letters 作者:Finella Lee; Liang-Yu Su; Chih-Hao Wang; Yuh‐Renn Wu; JianJang Huang 出版日期:2015-03-01 |
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