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 Simultaneous determination of several crystal structures from powder mixtures: the combination of powder X-ray diffraction, band-target entropy minimization and Rietveld methods 粉末混合物中几种晶体结构的同时测定：粉末X射线衍射、带靶熵最小化和Rietveld方法的结合
相关领域
粉末衍射
结构精修
衍射
材料科学
晶体结构
结晶学
相（物质）
X射线晶体学
光学
化学
物理
有机化学
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期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Martin Schreyer; Liangfeng Guo; Satyanarayana Thirunahari; Feng Gao; Marc Garland 出版日期：2014-03-19 |
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