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 Radiation effects and reliability characteristics of Ge pMOSFETs 锗PMOSFET的辐射效应和可靠性特性
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期刊：Microelectronic engineering 作者：Dun‐Bao Ruan; Kuei-Shu Chang-Liao; Zi-Qin Hong; Jiayi Huang; Shih-Han Yi; et al 出版日期：2019-08-01 |
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