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Current status and challenges for hole-selective poly-silicon based passivating contacts
选择空穴的多晶硅基钝化触点的研究现状及面临的挑战
相关领域
硅
材料科学
电流(流体)
纳米技术
光电子学
工程物理
物理
电气工程
工程类
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期刊:Applied physics reviews 作者:Rabin Basnet; Donghang Yan; Di Kang; M.M. Shehata; Pheng Phang; et al 出版日期:2024-02-09 |
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