| 标题 |
 Interface characterization of nanoscale laminate structures on dense dielectric substrates by x-ray reflectivity 用x射线反射率表征致密介质衬底上纳米级层压结构的界面
相关领域
材料科学
氮化钽
电介质
基质（水族馆）
氮化硅
硅
碳化硅
原子层沉积
氧化硅
表征（材料科学）
X射线反射率
氮化物
图层（电子）
纳米尺度
氧化物
钨
光电子学
纳米技术
薄膜
复合材料
冶金
海洋学
地质学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
monere
劲秉
我是站长才怪
tuanheqi
寒食
Billy
爱静静
双黄
杳鸢
curtisness
子车茗
HEIKU
萧水白
手机
三月聚粮
模糊中正
xjcy
彭于彦祖
lin
带头大哥
皖公网安备34019202002308
