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Line width roughness control and pattern collapse solutions for EUV patterning
用于EUV图案化的线宽粗糙度控制和图案塌陷解决方案
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Karen Petrillo; George Huang; Dominic Ashworth; Jacque H. Georger; Liping Ren; et al 出版日期:2011-03-17 |
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